Das Buch "CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability" bietet eine umfassende Untersuchung der Zuverlässigkeit von CMOS-RF-Schaltungen. Es richtet sich an Fachleute und Studierende im Bereich der Halbleitertechnik und Schaltungstechnik, die sich mit den Herausforderungen der Gerätezuverlässigkeit und Prozessvariationen in RF-Transmitter- und Empfängerschaltungen auseinandersetzen. Der Autor, Jiann-Shiun Yuan, beleuchtet spezifische Zuverlässigkeitsprobleme auf Geräte- und Technologieebene und analysiert deren Auswirkungen auf die Leistung von drahtlosen Transceivern. Durch die Kombination von analytischen Gleichungen, experimentellen Daten sowie Simulationsresultaten wird ein klares Verständnis für die Wechselwirkungen zwischen Gerätezuverlässigkeit und RF-Schaltungsleistung vermittelt, insbesondere im Hinblick auf Alterungseffekte und Prozessvariationen.
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